FiB

产品描述：蔡司双束电镜Crossbeam系列结合了高分辨率场发射扫描电镜（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦离子束（FIB）的优异加工能力。无论是用于多用户实验平台，还是科研或工业实验室，利用Crossbeam系列模块化的平台设计理念，您可基于自身需求随时升级仪器系统（例如使用LaserFIB进行大规模材料加工）。在加工、成像...

联系电话：022-58098868

立即咨询联系我们

详细介绍

蔡司双束电镜Crossbeam系列结合了高分辨率场发射扫描电镜（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦离子束（FIB）的优异加工能力。无论是用于多用户实验平台，还是科研或工业实验室，利用Crossbeam系列模块化的平台设计理念，您可基于自身需求随时升级仪器系统（例如使用LaserFIB进行大规模材料加工）。在加工、成像或是实现三维重构分析时，Crossbeam系列将大大提升您的聚焦离子束（FIB）应用效率。

标签：

上一篇：场发射电子显微镜

下一篇：环境扫描电子显微镜